Läpäisyelektronimikroskopia (TEM)
Läpäisyelektronimikroskopiasta käytetään yleisesti nimitystä TEM eli transmissioelektronimikroskopia. Se perustuu elektroneja lähettävän hehkukatodin käyttöön valon lähteenä.
- elektronisuihkun kulkiessa näytteen läpi osa elektroneista törmää näytteen atomien elektroneihin tai ytimiin, ja muuttaa suuntaansa eli siroaa.
- sironneet elektronit rajataan pois apertuurin (rajoitin) avulla.
- sironta on suurin tiheimmissä kohdissa näytettä, jotka alueet näkyvät kuvassa (fluoresoivalla levyllä) tummina.
- näytteessä olevia tiheyseroja pyritään kasvattamaan värjäämällä näytettä raskasmetallisuoloilla, jolloin kuvan kontrasti paranee.
- tarkasteltavat kohteet voidaan valokuvata.
- totaalisuurennus käytännössä 250 000-kertainen.
- erotuskyky noin 0,2-0,8 nm, korkean erotuskyvyn laitteilla jopa 0,12 nm.
- korkeajännite-elektronimikroskoopissa (1000-3000kV) elektronien läpäisykyky lisääntyy, jolloin voidaan tarkastella paksumpia leikkeitä.