not available fi se
not available 2 not available
www.solunetti.fi
taso 2

SEM-kuvia
   
SEM-näytteiden päällystysyksikkö
   

Pyyhkäisyelektronimikroskopia (SEM)

Pyyhkäisyelektronimikroskooppia (engl. scanning electron microscope, SEM) käytetään tutkittaessa kiinteiden pintojen rakennetta ja kokoonpanoa. Näytteen pintaa voidaan tarkastella noin 1000 – 100 000 kertaisilla suurennoksilla. Tarkasteltavaa kohdetta valaistaan sitä pyyhkäisevällä elektronisuihkulla, jota ohjataan sähkömagneettisin linssein sekä mekaanisten apertuurien avulla. Elektronisuihku ei läpäise näytettä, vaan se poikkeaa suunnastaan tavoittaessaan näytepinnan. 

 

Tutkittavan näytteen tulee olla kuiva ja sen pinnan sähköä johtava. Siksi useimmat biologiset näytteet tulee käsitellä SEM tarkastelua varten puhdistamalla, fiksoimalla, kuivaamalla, kiinnitämällä alustalleen sekä päällystämällä näyte metallilla (esim. kulta, palladium) tai hiilellä.

 SEM-laitteisto